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	菲希尔便携式x射线测厚仪 Fischer Fischescope x-ray XAN 500	菲希尔便携式x射线测厚仪/费希尔手持式射线镀层分析仪/菲希尔荧光光谱仪Fischer Fischescope x-ray XAN 500是德国菲希尔公司众多台式x-ray光谱仪中一款便携设计机型，可用于快速、无损地进行镀层测厚及材料分析。完全满足DIN ISO 3497标准和ASTM B 568标准。作为一款手持式XRF分析仪，常适合在生产线上检查大型零件（如飞机零件，管道或涡轮叶片）上的镀层。
	无核密度检测仪 LA-4114型	无核密度检测仪/土壤无核密度仪/无核密湿度仪/无核仪LA-4114型英文俗称EDG，是一种可替代核子密度仪，测量路基和地基压实土壤之物理特性的无核测量仪。无核密度检测仪EDG可测量并显示干/湿密度、含水量，以及压实百分数。EDG使用简便，可以作为建筑用辅助设备来监控每日的压实操作，其上等的工作性能和准确的测量结果可以与传统测量法，如核子密度测量法，灌砂法，以及干燥法相媲美。
	便携式合金光谱分析仪 SciAps XRF X-50	便携式合金光谱分析仪/合金元素含量检测仪/手持式光谱仪SciAps XRF X-50为现场金属材料分析，野外矿物元素分析及土壤重金属分析而研发的一款手持元素分析设备，SciAps XRF X-50便携式合金光谱分析仪采用*的X射线荧光技术，分析速度快，结果准确，操作简单，整体设计适用野外高温，雨淋，多尘等多变的作业环境。
	费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237	费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237是一款应用广泛的能量色散型射线荧光材料分析及镀层测厚仪。它尤其适合在自动化测量应用中无损测量超薄镀层厚度和分析材料。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪配备可编程运行XY轴工作台及Z轴升降系统，全自动测量超薄镀层厚度和分析材料成分。
	菲希尔x射线荧光镀层厚度及ROSH检测仪 FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ® -SDD	菲希尔x射线荧光镀层厚度及ROSH检测仪/X-RAY射线光谱测厚仪/X射线分析仪FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD是FISCHER产品中性能zui强大的X射线荧光仪器之一。菲希尔x射线荧光镀层厚度及ROSH检测仪XDV-SDD配备了特别加大的硅漂移探测器（SDD）。50mm²的探测器窗口确保能快速而精-确地测量甚是小面积的测量点。此外，XDV-SDD仪器还配备了各种不同的滤波片，从而能为不同的测量任务建立*优化的激发条件。XDV-SDD可以测量含量低于1000ppm的如汞、铅等有害金属元素。
	手持式XRF荧光光谱仪 X-MET8000S	手持式XRF荧光光谱仪/手持式合金成分分析仪/元素含量检测仪X-MET8000S由Oxford Instruments下属的工业产品分公司研究、设计和制造，世界500强日立公司于2017年7月收购了牛津仪器工业分析部门，牛津手持光谱仪品牌正式更名为日立仪器HITACHI。手持式XRF荧光光谱仪X-MET8000S型是一款为客户量身定做的X射线的荧光光谱仪。它集速度，准确，坚固和易用为一体，加上硬件，软件的多年行业经验，满足你对检测的所有要求。
	菲希尔x-ray荧光光谱仪 FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230	菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230是德国菲希尔fischer公司XDL系列机型中性价比*高的一款，相比XDL-210*主要的优势在于X轴和Y轴方向可以手动调节，大大方便了测量的便捷性。菲希尔x-ray荧光光谱仪XDL-230还可以通过可编程XY工作台与Z轴（可选）实现自动化的批量测试。XDL-230菲希尔x-ray荧光光谱仪以优异的性能被选为国内各省电科院/国家电网技能比武指定使用机型。
	x射线荧光镀层测厚仪 牛津X-strata 920	英国牛津X-strata 920型x射线荧光镀层测厚仪/x-ray光谱仪是一款结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，也是一款操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。牛津X-strata 920型x射线荧光镀层测厚仪/x-ray光谱仪在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
	X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237	X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量分析极薄镀层和超小含量而设计，是用于质量控制，质量检验和生产监控的合适的测量仪器。
	X-RAY荧光测厚仪 X-RAY XULM	X-RAY荧光测厚仪、X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。 X-RAY荧光测厚仪|x射线测厚仪|x荧光光谱仪|荧光光谱分析可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。
	X射线测厚仪 FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210	X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。

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