费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237典型的应用领域有：
• 分析小于 的超薄镀层
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 测定复杂的多镀层系统
• 全自动测量，如在质量控制领域
• 分析焊锡中铅含量
• 配备可选的 SDD 探测器：可测量镍磷中的磷含量
费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237设计理念：
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237是一款界面友好的台式测量仪器。它装备了高精度，可编程运行的 工作台和电调的轴升降系统，是进行自动测量的理想仪器。当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。通过激光光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精-确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。位置的精-确微调可以直接手动调整仪器或摇杆，或通过操作鼠标和键盘来实现。测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。所有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的 软件在电脑上完成的。
XDAL型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器，型式许可符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规规定。
为了使每次测量都在*佳的激发条件下进行，费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237配备了可电动切换的多个准直器和基本滤片。*新的半导体探测器能够达到很高的分析精度及探测灵敏度。型 射线荧光材料分析及镀层测厚仪有着良好的长期稳定性，这样就大大减少了重新校准仪器的需要，为您节省时间和精力。由于采用了基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。从元素铝（ ）到铀（ ），*多可同时测定种元素。尤其适合测量和分析超薄镀层，即使是十分复杂的成分构成或是十分微小的成分含量都不成问题。仪器配备高速可编程运行的 平台，它是质量控制和生产监控的自动测量过程的*合适的测量仪器。
费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237详细参数规格：
1、通用规格
设计用途：能量色散X射线荧光材料分析及镀层测厚仪 用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。
形式设计：台式仪器，测量门向上开启可编程的工作台和电调的轴马达驱动的可更换的准直器和基本滤片
视频摄像头和激光点（类）定位测量点。
测量方向：从上到下。
2、X 射线源
X射线管：带铍窗口的微聚焦管
高压、三档：10、30、50KV
孔径（准直器） ：4个可切换准直器：圆形；长方形、可按要求定制其它规格。
基本滤片：3 种可切换的基本滤片（标准配置：镍，铝，无）
测量点：取决于测量距离及准直器大小；在视频窗口中显示实际的测量点大小。*小的测量点大小约为0.15mm直径。
测量距离：0-80mm、在不同距离使用砖利 简化方法的距离补偿测量。如果是特定的应用程序或更高的校准精度要求，校正是必要的。
3、X射线探测
标准：x射线接收器采用珀耳帖法冷却的半导体探测器、能量分辨率小于等于200eV、元素范围硫为S(16)到到铀U(92)
可选 SDD：x射线接收器采用珀耳帖法冷却的硅漂移探测器、能量分辨率小于等于160eV、元素范围为铝AL(13) 到铀U(92)
4、样品定位
视频系统：高分辨率 彩色摄像头，沿着初级射线光束方向观察测量位置手动聚焦，对被测位置进行监控
十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）、可调节亮度的照明、激光光点用于精-确定位样品。
放大倍数：40*-160*
5、工作台
快速，电机驱动，可编程的X/Y工作台
*大移动范围 XY方向：255mm*235mm ； Z轴:140mm
Xy平台*快移动速度 80mm/s
xyz移动重复精度 小于等于0.01mm（单向）
可用样品放置区域 长宽：300mm*350mm
样品*大重量 5kg，降低精度要求情况下可达20kg
样品*大高度 140mm
6、电气参数
电源要求 交流220v、50HZ
功耗 *大 120W(不包括计算机)
保护等级IP40
7、尺寸规格
外部尺寸宽深高 ：570*760*650
重量约115kg
内部测量室尺寸宽深高：460*495*146
8、环境要求
使用时温度：10-40摄氏度
存储或运输时温度：0-50摄氏度
空气相对湿度 ，小于等于95%、无结露
9、计算单元
计算机：带扩展卡的计算机系统
软件：标准： 包含fischer winFTM BASIC 包含PDM；可选：fischer winFTM SUPER
10、执行标准
CE合格标准：EN61010
X射线标准：DIN ISO 3497和ASTM B 568
型式批准：作为受完全保护的仪器
型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。
11、费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237订货号
标准半导体探测器 604-348
可选SDD探测器 605-567
如有特殊要求，可与fischer磋商，定制特殊的XDAL型号。
其他测试仪器：高强度紫外线灯、铁素体含量检测仪。
