X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®
237采用手动或自动方式，测量和分析微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。典型的应用领域有：
1，测量大规模生产的电镀零部件
2，测量微小区域上的薄镀层
3，测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
4，全自动测量，如测量印刷线路板
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®
237为每次测量创造理想的激发条件，仪器配备可电动调整的多个准直器和基本滤片。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDLM237系统有着出色的精-确性和良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器，节省时间和精力。由于采用了基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®
237设计理念：
1，FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237设计为界面友好的台式测量仪器系列，配备了马达驱动的X/Y工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程Z轴升降系统。
2，高分辨率的彩色视频摄像头可方便精-确定位测量位置。配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。
3，测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。
4，带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放，并且允许测量点的精-确调整。
5，所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。
6，XDLM237型镀层测厚及材料分析仪完全满足DIN ISO 3497标准和ASTM B 568标准，型式许可符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规规定。
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®
237参数规格：
1，通用规格
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设计用途
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能量色散X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF) 用来测量薄镀层和微小结构， 分析合金和微量组分。
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元素范围
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从元素 氯(17) 到 铀(92) 配有可选的WinFTM® BASIC软件时，多可同时测定24种元素
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形式设计
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台式仪器，测量门向上开启
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测量方向
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从上到下
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2，X射线源
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X射线管
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带铍窗口的微聚焦钨管
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高压
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三档： 30 kV，40 kV，50 kV
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孔径（准直器）
标准（523-440）
可选（523-366）
可选（524-061）
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4个可切换准直器
[mm]: Ø0.1, Ø0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: Ø0.1, Ø0.2,
Ø0.3, 0.3x0.05 [mm]: Ø0.1, Ø0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制
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基本滤片
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3种可切换的基本滤片（标准配置：镍，铝，无）
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测量点
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取决于测量距离及使用的准直器大小， 实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 小的测量点大小:光圈约Ø 0.1 mm（选用准直器0.05x0.05
mm时）
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3，X射线探测
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X射线接收器
测量距离
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比例接收器
0 ~ 80 mm，使用保护的DCM测量距离补偿法
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4，视频系统
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视频系统
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高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置 手动聚焦，对被测位置进行监控 十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸） 可调节亮度的LED照明，激光光点用于精-确定位样品
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放大倍数
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40x - 160x
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5，电气参数
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电源要求
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交流 220 V 50 Hz
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功率
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-大 120 W (不包括计算机)
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保护等级
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IP40
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尺寸规格
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外部尺寸
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宽x深x高[mm]：570 x 760 x 650
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内部测量室尺寸
重量
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宽x深x高[mm]：460 x 495 x 146
120kg
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6，工作台
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设计
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马达驱动可编程X/Y平台
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-大移动范围 255 × 235 mm
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X/Y平台移动速度 ≤ 80 mm/s
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X/Y平台移动重复精度 ≤ 0.01 mm, 单向
可用样品放置区域 300 × 350 mm
Z轴
可编程运行
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Z轴移动范围 140
mm
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样品-大重量 5
kg，降低精度可达20kg
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样品-大高度 140
mm
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环境要求
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使用时温度
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10°C – 40°C
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存储或运输温度
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0°C – 50°C
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空气相对湿度
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≤ 95 %, 无结露
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计算单元
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计算机
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带扩展卡的计算机系统
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软件
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标准： WinFTM® V.6 LIGHT 可选： WinFTM® V.6 BASIC，PDM®，SUPER
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7，X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪XDLM 237执行标准
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CE合格标准
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EN 61010
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X射线标准
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DIN ISO 3497和 ASTM B 568
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型式批准
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安-全而保护**的测量仪器， 型式许可符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规规定。
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8，X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪订货号
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FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237
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604-347
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如有特殊要求，可与FISCHER磋商，定制特殊的XDLM型号。
其他测量仪仪器：铁素体测量仪SP10a、紫外线灯PS135、超声波测厚仪27mg
