牛津X-strata 920型x射线荧光镀层测厚仪/x-ray光谱仪是电子电镀行业使用-多的一款X射线无损镀层测厚仪，适合PCB电子线路板电镀层小点多点连续测试，电子线路板行业用户-多和口碑-好的一款设备。可分析多种样品形状和尺寸，可分析多种样品类型，从微小的电子元件到浴室配件提供多种硬件供选配，满足各种需要。
牛津X-strata 920型x射线荧光镀层测厚仪/x-ray光谱仪应用行业如下：
1、电子行业：有效控制生产过程，提高生产力
分析电子件上的金和钯的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu、测量线路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy
2、五金电镀行业：电镀表面处理的成本小化，产量大化
多样品和多点分析、单层或多层厚度测量、镀液成份分析
3、贵金属/金属合金：珠宝及其他合金的快速无损分析
分析及其他元素测定、贵金属合金检测
4、一致性检测：确保产品符合规格
测定有害物质从ppm级到高百分比级、有毒元素定量分析，例如检测镉、汞、铅等含量是否符合规定，按照IEC62321进行RoHS筛选，对航空焊料可靠性鉴定进行高可靠检测
5、新能源行业：确保产品有效一致
光电池薄膜吸收层（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析
通过镀层厚度分析优化导电性
牛津X-strata 920型x射线荧光镀层测厚仪/x-ray光谱仪特点概述：
性价比高，无损可靠，X-strata 920型x射线荧光镀层测厚仪是一款操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。
快速分析（几秒）1-4层镀层厚度
多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型
开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等
符合ISO3487和ASTM B568检测方法
牛津X-strata 920型x射线荧光镀层测厚仪/x-ray光谱仪优势：
高性能、高精度、长期稳定性：快速的分析带来生产成本-优化，测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量
坚固耐用的设计：可靠近生产线或在实验室操作，生产人员易于使用
简单的校准调试：在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果，方法建立只需几分钟，我们提供认证标准片以确保-佳度（A2LA 和
ISO/IEC17025）
预置了多种校准参数：X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法
的长期稳定性：自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果，例行进行简单快速的波谱校准，可自动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正，避免不同操作的结果偏差
镭射聚焦：简单的“定点-按键”操作将样品聚焦
固定焦距高度： 0.5” (12.7 mm)
可分析不同形状和尺寸的样品
多准直器
灵活选择准直器，优化测试结果
-佳的灵敏性和分析速度
多可配6个准直器，提高应用能力
牛津X-strata 920型x射线荧光镀层测厚仪/x-ray光谱仪具有-的系统安-全性：
为日常操作员设定简单的、功能受限的用户界面
管理员可进入系统进行维护
系统使用由操作者登录
自动锁定功能防止未授权的操作
数据处理，结果输出
结果可导出Excel表格或报告生成自定义
用户可自定义统计分析格式
包括统计分析数据
获取样品图象到报告中
牛津X-strata 920型x射线荧光镀层测厚仪/x-ray光谱仪多种样品台选择：
1、加深样品台
高度每半英寸(12.7mm)可调，架构式样品舱可容纳-大高度6.3"(160mm)的样品
2、固定样品台
样品台位置固定，经济、实用，平面样品台设计，适合高，度不超过1.3"(33mm)的样品分析
3、程控样品台
用于自动化测量，方便根据测试位置放置样品，并精-准定位测量点，样品台尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (宽)，程控台移动距离：7" x 7"，即178mm x
178mm
牛津X-strata 920型x射线荧光镀层测厚仪/x-ray光谱仪符合如下标准：
ASTM B568: X射线光谱仪测量镀层厚度的标准测试方法
ISO 3497: 金属镀层X射线光谱法测量镀层厚度
其他检测仪器：超声波高温耦合剂、铁素体含量检测仪。
