菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务，由于测量距离可以调节（*大可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件。使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）。
菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230设计理念：
1，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台，马达驱动的 Z 轴系统。
2，高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精-确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。
3，测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。
4，带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放，并且允许测量点的精-确调整。
5，所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的 WinFTM ® 软件在电脑上完成。
6，XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器，型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。
菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230基本应用：
1，镀层厚度测量
大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
电路板上较薄的导电层和/或隔离层
复杂几何形状产品上的镀层
铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量
2，材料分析
电镀槽液分析
电子和半导体行业中的功能性镀层分析
菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控，典型的应用领域有：
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层，例如：装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 测量印刷线路板
• 分析电镀溶液
XDL230 有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了 FISCHER 完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230规格概述：
1、通用规格
a，设计用途：能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF)， 用于测定超薄镀层和溶液分析。
b，元素范围：从元素 氯(17) 到 铀(92)，配有可选的 WinFTM® BASIC 软件时，*多可同时测定 24 种元素。
c，设计理念 台式仪器，测量门向上开启
d，测量方向 由上往下
2、X射线源
a，X 射线管：带铍窗口的钨管
b，高压：三档30 kV，40 kV，50 kV
c，孔径（准直器）：Ø 0.3 mm 可选：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；长方形 0.3 mm
x 0.05 mm
d，测量点尺寸：取决于测量距离及使用的准直器大小，实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致*小的测量点大小约Ø 0.2mm
3、X射线探测
X 射线接收器：比例接收器
测量距离：0 ~ 80 mm，使用砖利保护的 DCM
测量距离补偿法
4、样品定位
a，视频系统：高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置，手动聚焦，对被测位置进行监控，十字线（带有经过校准的刻度和测量 点尺寸），可调节亮度的LED照明，激光光点用于精-确定位样品。
b，放大倍数：40x–160x
5、电气参数
电源要求：220 V ，50 Hz
功率：*大 120 W（不包括计算机）
保护等级：IP40
6、尺寸规格
外部尺寸：宽×深×高[mm] 570×760×650
内部测量室尺寸：宽×深×高[mm] 460×495x（参考“样品*大高度”部分的说明）
重量：107 kg
7、环境要求
使用时温度：10°C – 40°C
存储或运输时温度：0°C – 50°C
空气相对湿度：≤ 95 %，无结露
8、工作台
设计：手动 X/Y 平台
X/Y 平台*大移动范围：95 x 150 mm
可用样品放置区域：420 x 450 mm
Z 轴：马达驱动
Z 轴移动范围：140 mm
样品*大重量：20kg
样品*大高度：140 mm
激光（1 级）定位点：有
9、计算单元
a，计算机：带扩展卡的 Windows ® 计算机系统
b，软件：标准： WinFTM ® V.6 LIGHT、可选： WinFTM
® V.6 BASIC，PDM，SUPER
10、执行标准
a，CE合格标准：EN 61010
b，型式许可：作为受完全保护的仪器，型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。
菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230订货号：
FISCHERSCOPE X-RAY
XDL230 604-496
如有特殊要求，可与FISCHER 磋商，定制特殊的XDL型号。
FISCHERSCOPE ® ;
XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® 是 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen–Germany的注册商标。
其他检测仪器：瑞典兰宝紫外线灯、铁素体含量检测仪。
