主营产品:
铁素体含量检测仪
铁素体测试仪
铁素体测量仪
铁素体测定仪
超声波探伤仪
色彩色差仪
钢筋扫描仪
X射线测厚仪
紫外线灯
高温耦合剂
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产品目录
铁素体含量检测仪
超声波探伤仪
超声波测厚仪
涂层测厚仪
紫外线灯
X射线测厚仪/光谱仪
磁粉探伤仪
色差仪
光泽度仪
测振仪
尘埃粒子计数器
卫生监督局检测仪器
检测仪器配件及消耗品
频闪仪
电火花检测仪
硬度计
金相显微镜
噪音测试仪
风速仪
粉尘仪
照度计
转速仪
烟气分析仪
气体检测仪
内窥镜
专用测温仪
混凝土保护层测厚仪
建筑工程常用仪器
钢筋扫描仪
附着力测试仪
磨耗实验仪
推拉力计
扭力计
张力仪
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产品简单介绍
手提式插拔式探头镀层厚度测量仪
ISOSCOPE®FMP10 DELTASCOPE®FMP10
手提式插拔式探头镀层厚度测量仪/覆层膜厚计/镀层膜厚仪/涂层厚度测试仪ISOSCOPE®FMP10或DELTASCOPE®FMP10,前者采用电涡流方法测量导电基材上的非导电物质、后者采用电磁感应法测量磁性金属基材上面的非磁性涂镀层物质。FMP10系列手提式插拔式探头镀层厚度测量仪便携式设计,美观大方。
手提式涂膜测厚仪
fischer DUALSCOPE® FMP20
手提式涂膜测厚仪/涂镀层厚度测试仪/双功能覆层膜厚计fischer DUALSCOPE® FMP20是一款可以接双用探头FD10的机型,可以实现电磁感应和电涡流两者的功能合一,是FMP40的简配版本,使得fischer DUALSCOPE® FMP20手提式涂膜测厚仪具有更好的价格优势。
涂镀层厚度检测仪
DELTASCOPE® FMP30 ISOSCOPE® FMP30
涂镀层厚度检测仪/涂层厚度测试仪/覆层厚度仪fischer DELTASCOPE® FMP30/ISOSCOPE® FMP30是一款单功能智能机型,可以配备磁性探头PROBE FGAB1.3或者涡流探头PROBE FTA3.3H,满足不同基材测量。涂镀层厚度检测仪FMP30系列如同FMP40具有丰富的数据处理功能选项。
德国菲希尔双功能镀层厚度测试仪
fischer DUALSCOPE® FMP40
德国菲希尔双功能镀层厚度测试仪/磁性镀层膜厚仪/电涡流覆层厚度仪fischer DUALSCOPE® FMP40是菲希尔FMP10-40系列机型中配置的一款,可以配备双功能探头FD10,具备自动识别镀层基材功能,无需更换探头。同时fischer DUALSCOPE® FMP40德国菲希尔双功能镀层厚度测试仪也是FMP10-40机型中配置的一款,具有诸多数据处理功能。
库仑法电位差/多层镍测试仪
COULOSCOPE® CMS STEP
库仑法电位差/多层镍测试仪/法拉第测厚仪COULOSCOPE® CMS STEP采用库仑方法的镀层测量仪,并且可以测量多层镍厚度及电位差。COULOSCOPE® CMS STEP库仑法电位差/多层镍测试仪采用大LCD显示器,带键盘。预先定义大约100种常用金属镀层,50条存储记录用于特定应用的参数和3000个测量值。
菲希尔电解测厚仪
fischer COULOSCOPE®CMS
菲希尔电解测厚仪/电解法镀层厚度测试仪/库伦测厚仪fischer COULOSCOPE®CMS采用库伦法测量几乎所有金属镀层厚度,无论基材是金属或非金属,无论镀层结构是单镀层还是多镀层。COULOSCOPE®CMS菲希尔电解测厚仪符合DIN EN ISO 2177标准。
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量分析极薄镀层和超小含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的合适的测量仪器。
金属电导率测试仪
SMP10
金属电导率测试仪SMP10是德国菲希尔公司的针对金属如铜、铝、锌的非铁金属(也就是非磁性金属)的电导率测试的检测设备。全称Fischer SIGMASCOPE® SMP10,可以快速、简便地现场测量非铁磁性金属电导率(符合DIN EN 2004-1, ASTM E 1004标准)
菲希尔涂层膜厚仪
FMP10 FMP20
菲希尔涂层膜厚仪FMP10、FMP20根据主机以及探头感应方式也相应分为DELTASCOPE®FMP10、SOSCOPE®FMP10、DUALSCOPE®FMP20,对于菲希尔涂层膜厚仪仪器,您可以根据您的应用从新的FMP家族中选取;对于探头,我们为您提供了大量高精度的探头,相信一定有一款适合您
菲希尔涂镀层测厚仪
FMP30 FMP40
德国fisher菲希尔涂镀层测厚仪FMP30、FMP40系列是的涂镀层测厚仪,FMP30、FMP40新一代手提式仪器和可更换的探头可以提供无损且高精度的涂镀层厚度测量。无论是生产过程中的质量控制,还是在来料检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的用户体验和多样的选择来满足您的需求。 由于采用了模块化设计,您可以为您的特殊需求分别选择仪器和探头
铁素体检测仪
MP30E-S
铁素体检测仪MP30E-S测量原理为磁导原理。铁素体含量是通过磁导率确定。主要性能参数是通过在有名实验室里大量实验样件的基础上得到,并存储在仪器内。通过正确校准标准试块测量铁素体含量,铁素体含量测量的精度得到改进、提高。
X-RAY荧光测厚仪
X-RAY XULM
X-RAY荧光测厚仪、X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量,同时也适于进行元素分析。 X-RAY荧光测厚仪|x射线测厚仪|x荧光光谱仪|荧光光谱分析可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。
X射线测厚仪
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。
磁性非磁性两用测厚仪
MPOR MP0
MPOR磁性非磁性两用测厚仪/膜厚仪为德国生产,集合了磁性测厚仪(P-MP0D)和涡流测厚仪(I-MP0D)两种仪器的功能,是D-MP0D型仪器的改进型产品。可用于测量铁基及非铁基体上涂层的厚度。
铁素体测定仪
FMP30
铁素体测定仪(铁素体含量测定仪)主要是测量奥氏体不锈钢,双相不锈钢等焊缝焊接部分中的铁素体含量,可以预防其发生断裂,脆化等,保证产品和工程**。
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