德國菲希爾X射線熒光分析儀XDLM237和XDAL237SDD主要性能對比
菲希爾公司FISCHER品牌的x-ray鍍層厚度檢測及材料分析儀是業內的標桿產品，在全球有著廣泛的客戶和良好的聲譽。FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237 X射線鍍層厚度測試儀及材料分析儀采用手動或自動方式，測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 237 SDD X射線鍍層厚度測試儀及材料分析RoHs檢測儀，配備可編程運行XY工作臺及Z軸升降系統，全自動測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。兩者主要電器參數對比如下表：
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機型 Model
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FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237
X射線鍍層厚度測試儀及材料分析儀
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FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 237 SDD
X射線鍍層厚度測試儀及材料分析RoHs檢測儀
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備注 Remark
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測量元素范圍 Element Range
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Cl（17）-U（92）
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Al（13）-U（92）
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XDAL237 SDD的測量元素范圍更大，可以測P磷等元素
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分析軟件 Software
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WinFTM(V6 LIGHT) 可*多同時測量4層鍍層，5種元素，在選配BASIC時可測23層鍍層，24種元素
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WinFTM(V6 BASIC) 可*多同時測量23層鍍層，24種元素
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XDLM237的主要應用為鍍層厚度的測量，XDAL237SDD不但在測厚方面更具優勢，可測量納米級鍍層；并且可以做精-確的材料分析以及RoHs痕量分析。XDAL237 SDD 標配 Basic版軟件
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X射線發生裝置 X-Ray Tube
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W靶微聚焦射線管
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W靶微聚焦射線管
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高壓 High voltage
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三種可調高壓：30 kV，40
kV，50 kV
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三種可調高壓：10 kV，30
kV，50 kV
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10kV的電壓可用于測量能量更低的元素（例如：P磷等）
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準直器 Aperture (Collimator)
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4個可切換準直器（Ø0.1/Ø0.2/0.05x0.05/0.2x0.03mm）
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4個可切換準直器（Ø0.1/Ø0.3/Ø0.6/Ø0.5*0.15mm)
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XDAL237配備了更大的0.6mm準直器，使得測量大樣品和RoHS的應用時，大大提高精度。
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測量點大小 Measurement spot size
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約 Ø 0.1 mm
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約 Ø 0.15 mm
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X射線接收器 X-ray detector
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比例接收器 FWHM≤900eV
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硅漂移SDD半導體探測器 FWHM≤160eV
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XDAL237 SDD配備*的SDD硅漂移接收器，有更高的能量分辨率。頻譜上相鄰元素之間干擾更小，精度更高。并且可進行痕量分析（可滿足RoHS的應用）。
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濾波片 Primary filter
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3 種可切換濾片 (鎳/鋁/無）
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3 種可切換濾片 (鎳/鋁/無）
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放大倍數 Zoom factor
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40X-160X
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40X-160X
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樣品臺尺寸 Usable sample placement area
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300 × 350 mm
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300 × 350 mm
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移動方式 Travel Mode
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電動可編程
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電動可編程
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可移動范圍 Maximum travel XY
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255*235mm
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255*235mm
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Z軸 Z-axis
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可編程運行 Programmable
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可編程運行 Programmable
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隨機元素片 Pure Element
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12純元素片：(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr) 12 Pure Element
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14純元素片：(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr，Ti，S) 14 Pure Element
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以上德國菲希爾X射線熒光分析儀XDLM237和XDAL237SDD主要性能對比表中紅色字體為差異體現。XDLM237機型雖然在性能上與XDAL237SDD有不及的地方，但因其相對低廉的價格和同樣不俗的性能使得XDLM237成為菲希爾x射線材料厚度分析儀中的主流暢銷機型。
其他檢測儀器：超聲高溫耦合劑、鐵素體含量檢測儀。
