泛美45MG超声波测厚仪增配功能概述
泛美45MG是美国泛美panametrics（被奥林巴斯Olympus收购）新一代超声波测厚仪，在其基本款的基础上通过选配功能可以获得非常丰富的扩展功能，成为一款非常的检测仪器。
回波到回波/穿透涂层：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面的漆层或涂层。
单晶： 这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。
单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。
数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。
带有波形调整功能的实时A扫描： 用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、回波空白、范围及延迟参数。
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