x射线测厚仪测试原理

x射线测厚仪测试原理

x射线测厚仪是目前涂镀层厚度测试几种常规方法中为的一中测量方法，相对于电磁感应/电涡流法和电解法/库仑法、x射线测厚仪具有无损检测、对电镀对象形状和大小几乎没有要求、测量精准等特点，但相对而言其高昂的价格也让很多客户望而却步。

x射线测厚仪测试原理也可以说是X射线荧光(XRF)仪器工作原理大概如下：

x射线测厚仪对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

所以x-ray类型的厚度测试仪只能针对金属镀层，对非金属涂层如油漆、氧化膜等覆层不能测量。

x射线厚度测试优势概述：

少或无需样品制备

无损分析　

可测元素范围广

可分析固体和溶液

分析快速：几秒内得到结果

定性、半定量和全定量分析

操作容易，只需要简单培训

X射线荧光标准检测方法、规格和操作指导全球通用，可提高产品质量、

**性，便于市场准入和贸易，增强客户信心。