磁性膜厚仪820F
磁性膜厚仪820F功能简单叙述: 测量铁磁性金属基体上的非导磁涂层的厚度
磁性膜厚仪820F技术参数
测量范围：0-2000UM
测量精度：零点校准，±（3%H±1）；二点校准；±［（1%～3%）］H±1.5
显示精度：0.1（＜10um）1um（＞100um）
环境温度：0-40℃
相对湿度：≤85%
小基体：10*10 mm
小曲率：凸5mm；凹25mm
薄基体：0.3mm
重量：128G
电源:7号电池2颗
磁性膜厚仪820F使用方法
1 按下电源开关ON/OFF，听到“嘟”声提示，仪器自动进入测量状态,自动恢复上次关机前的参数设置。
2 将探头垂直压紧到被测涂层上,显示屏上的值即为待测涂层的测量值（如觉得测量结果不时可对仪器进行校准，校准步骤见第三点：仪器校准）。
3 注意：每次测量时请勿必将探头提高到1厘米以上，探头压上被测物体时速度不能太慢。
磁性膜厚仪820F仪器校准
1 校零
将探头压在基准块上（或不带涂层的测量物体上） ，再按一下校零键“ZERO”进行校零。在按“ZERO”键时，测量探头在基准块上不要晃动，且只有在按完“ZERO”键后，才能提起探头，否则，校零不正确。
2 将测量探头提起到1厘米以上，然后再将探头以正常的速度压在基准块上（或不带涂层的测量体上），若在同一点的测量值在“0”附近，说明校零成功，否则，应重新校零。
校准
根据要测量的涂层厚度，选择适当的标准膜片，进行校准。
先将标准膜片放在基准块上（或不带涂层的测量体上），再将测量探头压在标准膜片上，若显示屏上测量值与标准膜片不同，测量值可通过“+”或“-”键来修正（通过“+”“-”键进行修正时，请提起探头）。
为保证校准的准确性，可通过多次测量同一标准膜片来验证。
涂装 相关仪器：涂层测厚仪，漆膜硬度测试仪，电解膜厚仪，黏度计/粘度计，X射线测厚仪，附着力测试仪，微型光泽仪，分光色差仪，雾影仪，反射率测定仪，光谱仪，涂膜干燥时间记录仪，标准光源箱
