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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	泛美超声波测厚仪 panametrics 27MG	泛美超声波测厚仪英文品牌panametrics，被olympus收购后也称奥林巴斯超声波测厚仪，泛美超声波测厚仪panametrics 27MG是一款经济实用的超声测厚仪，其设计目的是从一侧对内部受到腐蚀或侵蚀的金属管道、箱罐及其它设备进行的测量。
	多功能超声波测厚仪 T-SCAN300 T-SCAN300DL	多功能超声波测厚仪T-SCAN300系列是英国Silverwing公司的产品，不同于其他的测厚仪T-SCAN300能够同时检测涂层及基体材料的厚度。测厚仪的软件使得检测结果以两种模式显示：直接数字显示；检测部位的B扫描图像显示。多功能超声波测厚仪T-SCAN300系列分为T-SCAN300和T-SCAN300DL两款，后者多了数据存储功能
	精密超声波测厚仪 PX-7 PX-7DL	美国DAKOTA达考特公司生产的超精密超声波测厚仪PX-7/PX-7DL系列具有非常高的精度和准确性，测量范围0.15-25.4mm，采用单晶探头，带有延迟块，是低量程高精度测量的仪器。DAKOTA达考特精密超声波测厚仪PX-7/PX-7DL系列外壳完全密封的金属外壳，小巧、便携，适用于恶劣的操作环境
	泛美超声波测厚仪单晶探头 M106-SM V260-SM M2008 M208-SM	泛美超声波测厚仪单晶探头用于厚度测量，区别于如D799/D790-SM等用于腐蚀测厚操作的双晶探头。泛美超声波测厚仪单晶探头可以分类为：接触式探头如M106-SM、Sonopen探头如V260-SM、水浸探头如M316-SU、延迟块探头如M2008/M208-SM等
	泛美测厚仪双晶探头 D799 D790-SM D7906	泛美测厚仪双晶探头种类繁多，常见的有标配常温探头D799，高温套装标配的高温探头D790和D790-SM，透涂层探头D7906等其他型号如:D790-RL、D790-SL、D792、D797、D7908、MTD705等等。泛美测厚仪双晶探头主要用于腐蚀测厚操作。所有泛美标准双晶探头都具有自动探头识别功能，这个功能可以为每个特定探头自动调用默认V声程校正。
	泛美超声波测厚仪 45MG	泛美超声波测厚仪45MG系列是美国泛美无损检测仪器公司新一代超声波测厚仪，具有操作简便、坚固耐用、性能可靠的特点。45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的超声测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的**型仪器，可用于几乎所有测厚应用。
	日本超声波测厚仪 AD-3253B	日本超声波测厚仪AD-3253B是一款经典老牌测厚仪。AD-3253B机身紧凑轻巧仅180克；操作简易，直接显示数值，无需专门培训；读取简便，可显示被测物厚度及音速；带低电量警示；AD-3253B厚度范围：0.8mm到200mm
	手持式超声波测厚仪 CM8810	手持式超声波测厚仪CM8810主要应用于：石油、造船、电站、机器制造业及压力容器、化工设备锅炉、储油罐等厚度测量和腐蚀测量，超声波测厚仪CM8810测量范围为（公/英制）:1.5～200mm 0.06-8inch，也可以定制量程范围更广的超声波测厚仪
	超声波测厚仪 HG-6120	超声波测厚仪HG-6120是一款手持式数字显示的超声测厚仪，HG-6120采用高亮度EL背光断码液晶屏，0.01mm显示。HG-6120可配带数据处理软件,可以连接电脑。仪器HG-6120是智能型超声波测厚仪，采用新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料如玻璃，塑料，陶瓷等声音良导体的厚度，并可以对材料的声速进行测量
	DM4超声波测厚仪 DM4E DM4 DM4DL	德国KK（Krautkramer）的DM4超声波测厚仪系列有三款产品DM4E、DM4和DM4DL，其中DM4超声波测厚仪和DM4DL超声波测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。DM4系列超声波测厚仪具有小巧轻便，操作简单，功能等特点，在业内有较高的知名度。
	超声波测厚仪 UTM-101H	超声波测厚仪UTM-101H基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料如玻璃，塑料，陶瓷等声音良导体的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。是一款性价比非常高的一款超声波测厚设备。
	腐蚀超声波测厚仪 38DL PLUS	腐蚀超声波测厚仪38DL PLUS是一款开创超声测厚技术新时代的**型仪器。这款手持式测厚仪可地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其的壁厚测量。
	球化率仪 VX	球化率仪VX是一种手持式通过超声波原理来测量铸件等工件的声速测定仪(国内也称其为球化率仪)。当测量铸件、合金或者塑料时，VX就会测出声波穿过它们时的速度。因此，可得出所测材料内部组织是否紧密无缺陷
	国产高精度超声波测厚仪 UM-3	国产高精度超声波测厚仪UM-3工作原理：1，界面波～回波方式（普通模式） 2，回波～回波方式（精密模式） 测量范围：1.5～18mm（普通模式）0.3～10mm (精密模式) 单位和显示分辨率 毫米-0.001，0.01，0.1 英寸-0.0001，0.001，0.01
	去除油漆层测厚仪 UM-2D	去除油漆层测厚仪UM-2D工作原理：脉冲～回波方式（标准模式，用于普通厚度测量），回波～回波方式（涂层模式，用于不去除油漆层的基材净厚度测量），此款超声测厚仪去涂层测量基材厚度的功能以及精度为国内，性价比。
	数字超声测厚仪 UM-2	数字超声测厚仪UM-2探头零点校准方式：一点校准（用于常规的厚度测量），两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量精度）
	去涂层测厚仪 UM-1D	去涂层测厚仪UM-1D其工作原理为：脉冲～回波方式（标准模式，用于普通厚度测量） 回波～回波方式（涂层模式，用于不去除油漆层的基材净厚度测量，即可以穿透表面油漆或者其他镀层直接测量基材的厚度，相当方便）
	测厚仪 UM-1	UM-1测厚仪采用脉冲～回波方式的工作原理，测量范围为：0.8～300mm，具体测量情况取决于所用探头、所测材料、表面状况，单位和显示分辨率：毫米-0.1，英寸-0.01
	超声波测厚仪 T-SCAN 300DL plus T-SCAN300DL+	T-SCAN 300系列超声波测厚仪包括 T-SCAN 300基本型，T-SCAN 300DL存储型，T-SCAN 300DL+ (T-SCAN 300 DL plus)扫描型共三款测厚仪，T-SCAN300DLplus能够同时检测涂层及基体材料的厚度，声速可调
	超声波测厚仪 T-SCAN 300DL	T-SCAN 300系列超声波测厚仪包括 T-SCAN 300基本型，T-SCAN 300DL存储型，T-SCAN 300DL+ (T-SCAN 300 DL plus)扫描型共三款测厚仪。T-SCAN300DL能够同时检测涂层及基体材料的厚度，声速可调。

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