泛美45MG超聲波測厚儀增配功能概述
泛美45MG是美國泛美panametrics(被奧林巴斯Olympus收購)新一代超聲波測厚儀,在其基本款的基礎上通過選配功能可以獲得非常豐富的擴展功能,成為一款非常的檢測儀器。
回波到回波/穿透涂層:使用回波到回波選項,儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度,而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度,這兩個厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此,在進行厚度測量時,無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶: 這個選項可對很多材料,如:金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷,進行非常的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透:這個選項可對較厚或衰減性較高的材料,如:玻璃纖維或鑄造金屬,進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數據記錄器:45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器,可方便地存儲和傳輸厚度讀數和波形數據。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調整功能的實時A掃描: 用戶使用這個可選實時A掃描模式,可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描),核查厚度測量讀數,對增益和空白設置進行手動調整,以在具有挑戰性的應用中大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、回波空白、范圍及延遲參數。
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