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新型SIDSP技術涂層測厚儀

]資料
如果您對該產品感興趣的話,可以 產品名稱: 新型SIDSP技術涂層測厚儀
產品型號: MINITEST 720/730/740
產品展商: 德國EPK ElektroPhysik
關注指數:1467
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簡單介紹
新型SIDSP技術涂層測厚儀/膜厚測試儀/涂膜厚度檢測儀/鍍層測厚儀MINITEST 720/730/740涂層測厚探頭是采用SIDSP技術的智能數字化測試設備,數字信號處理取代模擬信號處理時代,新型SIDSP技術涂層測厚儀將成為未來涂層膜厚儀的發展趨勢。

新型SIDSP技術涂層測厚儀的詳細介紹

新型SIDSP技術涂層測厚儀/膜厚測試儀/涂膜厚度檢測儀/鍍層測厚儀MINITEST 720/730/740特點概述: 

SIDSP使測量不受干擾,測值更加
可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內置換為外置)
FN
探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
生產過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
大存儲量,能存儲10100組多達100,000個讀數
讀數和統計值能單獨調出
超大,背光顯示屏,顯示內容可180度旋轉
菜單指引操作,25種語言可選
IrDA接口,紅外線傳輸數據到打印機和PC
可下載更新軟件

 

新型SIDSP技術涂層測厚儀/膜厚測試儀/涂膜厚度檢測儀/鍍層測厚儀MINITEST 720/730/740之SIDSP技術解析:

SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發的,世界的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的**奠定了新標準。SIDSP即探頭內部數字信號處理,這項技術使探頭在測量時,同時在探頭內部將信號完全處理為數字形式。SIDSP探頭完全依據世界技術生產。

新型SIDSP技術涂層測厚儀工作原理如下:
跟傳統技術不同,SIDSP在探頭頂部產生和控制激發信號,回傳的信號經過32位數字轉換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項的數字處理技術,同時應用在現代通訊技術(手機網絡)方面,如數字濾波器,基帶轉換,平均值,隨機分析,等等。此項技術能獲得與模擬信號處理無可比擬的信號質量和度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優勢,為涂層測厚設定了一個新的標準。

 

新型SIDSP技術涂層測厚儀/膜厚測試儀/涂膜厚度檢測儀/鍍層測厚儀MINITEST 720/730/740優勢介紹:

1、MINITEST 720/730/740涂層測厚儀增加了測量速度設置選項

MINITEST 700可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下,您可以短時間測量大量數值;也可以只測量少數幾個數值,但要求精度很高,您只需選擇相應的模式就可以做到。測量值超過您所設定的極限值時,儀器會報警,保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警,在極限范圍內用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。

2、MINITEST 720/730/740涂層測厚儀使用簡單方便
MINITEST 700
按照人體工學設計,外形很適合人手掌握。為了質量控制和檢驗的靈活性,MINITEST 740可以輕易由內置探頭變換為外置探頭,方便測量難以到達的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求:如果您想單手測量,可以選擇內置探頭的720730則是外置探頭的。所有型號都配有一個超大、背光的顯示屏,顯示內容可以180度旋轉,方便您讀取數據。

3、預設選項節省您的時間和**
所有MINITEST 700探頭都可以對不規則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時,整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎上進行校準。為節省您的時間和**,儀器預設了大量校準方法,適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準,零點校準,2點校準和3點校準。另外,還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯。

4、新的MINITEST 700產品線,加強了EPK在全球涂層測厚市場的領導地位

有了新的SIDSP F型探頭(測量鐵基體)和N型探頭(測量非鐵基體),您可享受到高度和高重現性帶給您的優勢和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題,而產品上等的外觀是您長期價值和成功的關鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業。

 

新型SIDSP技術涂層測厚儀/膜厚測試儀/涂膜厚度檢測儀/鍍層測厚儀MINITEST 720/730/740技術規格:

1、測厚儀主機 


型號
特性

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探頭類型

內置

外置

內置外置可換

數據記憶組數

10

10

100

存儲數據量

10,000

10,000

100,000

統計值

讀值個數,小值,大值,平均值,標準方差,變異系數,組統計值(標準設置/自由配置)

校準程序符合標準和規范

ISOSSPC,瑞典標準,澳大利亞標準

校準模式

出廠設置校準,零點校準,2點校準,3點校準,使用者可調節補償值

極限值監控

聲、光報警提示超過極限

測量單位

ummmcmmilsinchthou

操作溫度

-10-60

存放溫度

-20-70

數據接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2AA電池

標準

DIN EN ISO 14612064217823602808388219840
ASTM B244
B499D7091E376
AS 3894.3
SS 1841 60SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

175g

210g

175g(內置)/230g(外置)

2、SIDSP探頭


探頭
特性

F1.5N0.7FN1.5

F2

F5N2.5FN5

F15

F

N

F

F

N

F

測量范圍

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范圍

小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用

粗糙表面

標準探頭,使用廣泛

厚涂層

測量原理

磁感應

電渦流

磁感應

磁感應

電渦流

磁感應

信號處理

探頭內部32位信號處理(SIDSP

±1μm+0.75%讀值)

±1.5μm+0.75%讀值)

±5μm+0.75%讀值)

重復性

±0.5μm+0.5%讀值)

±0.8μm+0.5%讀值)

±2.5μm+0.5%讀值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

小曲率半徑(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

小曲率半徑(凹,外置探頭)

7.5mm

10mm

25mm

小曲率半徑(凹,內置探頭)

30mm

30mm

30mm

小測量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續模式下測量速度

每秒20個讀數

單值模式下大測量速度

每分鐘70個讀數

 

新型SIDSP技術涂層測厚儀/膜厚測試儀/涂膜厚度檢測儀/鍍層測厚儀MINITEST 720/730/740 

1、標準配置:
帶塑料手提箱,內含:
MINITEST 720(
內置探頭)
MINITEST 730(外置探頭)
MINITEST740主機(不含探頭,有各種探頭可選)
校準套裝含校準片和零板
操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
2
AA電池
2、推薦配件:

F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架

新型SIDSP技術涂層測厚儀/膜厚測試儀/涂膜厚度檢測儀/鍍層測厚儀MINITEST 720/730/740遵守標準如下:

標準:SSPC-PA2ISO,瑞典(SS184160),澳大利亞(AS 3894.3),ISO 19840ASTM D7091(以前的D1186D1400)。

其他測試儀器:蘇州圣光鐵素體測試儀SP10a、瑞典藍寶紫外線燈PS135.

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