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x射線熒光鍍層測厚儀

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如果您對該產品感興趣的話,可以 產品名稱: x射線熒光鍍層測厚儀
產品型號: 牛津X-strata 920
產品展商: 英國牛津oxford
關注指數:3485
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簡單介紹
英國牛津X-strata 920型x射線熒光鍍層測厚儀/x-ray光譜儀是一款結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備,也是一款操作簡單的質量控制分析儀,滿足鍍層厚度測量和材料分析。牛津X-strata 920型x射線熒光鍍層測厚儀/x-ray光譜儀在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。

x射線熒光鍍層測厚儀的詳細介紹

牛津X-strata 920型x射線熒光鍍層測厚儀/x-ray光譜儀是電子電鍍行業使用-多的一款X射線無損鍍層測厚儀,適合PCB電子線路板電鍍層小點多點連續測試,電子線路板行業用戶-多和口碑-好的一款設備。可分析多種樣品形狀和尺寸,可分析多種樣品類型,從微小的電子元件到浴室配件提供多種硬件供選配,滿足各種需要。


牛津X-strata 920型x射線熒光鍍層測厚儀/x-ray光譜儀應用行業如下:


1、電子行業:有效控制生產過程,提高生產力

分析電子件上的金和鈀的厚度,例如Au/Ni/Cu,Au/Pd/Ni/Cu、測量線路板上的可焊性,比如Ag/Cu/Epoxy

2、五金電鍍行業:電鍍表面處理的成本小化,產量大化

多樣品和多點分析、單層或多層厚度測量、鍍液成份分析

3、貴金屬/金屬合金:珠寶及其他合金的快速無損分析

分析及其他元素測定、貴金屬合金檢測

4、一致性檢測:確保產品符合規格

測定有害物質從ppm級到高百分比級、有毒元素定量分析,例如檢測鎘、汞、鉛等含量是否符合規定,按照IEC62321進行RoHS篩選,對航空焊料可靠性鑒定進行高可靠檢測

5、新能源行業:確保產品有效一致

光電池薄膜吸收層(如CIS, CIGS, CdTe)的成份分析

通過鍍層厚度分析優化導電性



牛津X-strata 920型x射線熒光鍍層測厚儀/x-ray光譜儀特點概述:


性價比高,無損可靠,X-strata 920型x射線熒光鍍層測厚儀是一款操作簡單的質量控制分析儀,滿足鍍層厚度測量和材料分析。

快速分析(幾秒)1-4層鍍層厚度

多款規格,例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺,滿足所有樣品類型

開槽式樣品艙可檢測大面積樣品,例如印制線路板等

符合ISO3487和ASTM B568檢測方法



牛津X-strata 920型x射線熒光鍍層測厚儀/x-ray光譜儀優勢:

高性能、高精度、長期穩定性:快速的分析帶來生產成本-優化,測定元素厚度,優化的性能可滿足廣泛的元素測量

堅固耐用的設計:可靠近生產線或在實驗室操作,生產人員易于使用

簡單的校準調試:在沒有標準片時,經驗系數法或基本參數法可以提供簡單可靠的定量結果,方法建立只需幾分鐘,我們提供認證標準片以確保-佳度(A2LA 和 ISO/IEC17025)

預置了多種校準參數:X-Strata920 預置800多種容易選擇的應用參數/方法

的長期穩定性:自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正,確保穩定的測試結果,例行進行簡單快速的波譜校準,可自動檢查儀器性能(例如靈敏性)并進行必要的修正,避免不同操作的結果偏差

鐳射聚焦:簡單的“定點-按鍵”操作將樣品聚焦

固定焦距高度: 0.5” (12.7 mm)

可分析不同形狀和尺寸的樣品

多準直器

靈活選擇準直器,優化測試結果

-佳的靈敏性和分析速度

多可配6個準直器,提高應用能力


牛津X-strata 920型x射線熒光鍍層測厚儀/x-ray光譜儀具有-的系統安-全性:

為日常操作員設定簡單的、功能受限的用戶界面

管理員可進入系統進行維護

系統使用由操作者登錄

自動鎖定功能防止未授權的操作

數據處理,結果輸出

結果可導出Excel表格或報告生成自定義

用戶可自定義統計分析格式

包括統計分析數據

獲取樣品圖象到報告中


牛津X-strata 920型x射線熒光鍍層測厚儀/x-ray光譜儀多種樣品臺選擇:

1、加深樣品臺

高度每半英寸(12.7mm)可調,架構式樣品艙可容納-大高度6.3"(160mm)的樣品

2、固定樣品臺

樣品臺位置固定,經濟、實用,平面樣品臺設計,適合高,度不超過1.3"(33mm)的樣品分析

3、程控樣品臺

用于自動化測量,方便根據測試位置放置樣品,并精-準定位測量點,樣品臺尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (寬),程控臺移動距離:7" x 7",即178mm x 178mm


牛津X-strata 920型x射線熒光鍍層測厚儀/x-ray光譜儀符合如下標準:

ASTM B568: X射線光譜儀測量鍍層厚度的標準測試方法

ISO 3497: 金屬鍍層X射線光譜法測量鍍層厚度



其他檢測儀器:超聲波高溫耦合劑鐵素體含量檢測儀

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