磁性膜厚儀820F
磁性膜厚儀820F功能簡單敘述: 測量鐵磁性金屬基體上的非導磁涂層的厚度
磁性膜厚儀820F技術參數
測量范圍：0-2000UM
測量精度：零點校準，±（3%H±1）；二點校準；±［（1%～3%）］H±1.5
顯示精度：0.1（＜10um）1um（＞100um）
環境溫度：0-40℃
相對濕度：≤85%
小基體：10*10 mm
小曲率：凸5mm；凹25mm
薄基體：0.3mm
重量：128G
電源:7號電池2顆
磁性膜厚儀820F使用方法
1 按下電源開關ON/OFF，聽到“嘟”聲提示，儀器自動進入測量狀態,自動恢復上次關機前的參數設置。
2 將探頭垂直壓緊到被測涂層上,顯示屏上的值即為待測涂層的測量值（如覺得測量結果不時可對儀器進行校準，校準步驟見第三點：儀器校準）。
3 注意：每次測量時請勿必將探頭提高到1厘米以上，探頭壓上被測物體時速度不能太慢。
磁性膜厚儀820F儀器校準
1 校零
將探頭壓在基準塊上（或不帶涂層的測量物體上） ，再按一下校零鍵“ZERO”進行校零。在按“ZERO”鍵時，測量探頭在基準塊上不要晃動，且只有在按完“ZERO”鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。
2 將測量探頭提起到1厘米以上，然后再將探頭以正常的速度壓在基準塊上（或不帶涂層的測量體上），若在同一點的測量值在“0”附近，說明校零成功，否則，應重新校零。
校準
根據要測量的涂層厚度，選擇適當的標準膜片，進行校準。
先將標準膜片放在基準塊上（或不帶涂層的測量體上），再將測量探頭壓在標準膜片上，若顯示屏上測量值與標準膜片不同，測量值可通過“+”或“-”鍵來修正（通過“+”“-”鍵進行修正時，請提起探頭）。
為保證校準的準確性，可通過多次測量同一標準膜片來驗證。
涂裝 相關儀器：涂層測厚儀，漆膜硬度測試儀，電解膜厚儀，黏度計/粘度計，X射線測厚儀，附著力測試儀，微型光澤儀，分光色差儀，霧影儀，反射率測定儀，光譜儀，涂膜干燥時間記錄儀，標準光源箱
